電子元器件是元件和器件的總稱。常用電（diàn）子元器件：電阻、電容（róng）、二極（jí）管、三極管、變壓器、繼電器、壓敏、液晶、連接器、可控（kòng）矽（guī）、輕觸（chù）開關、蜂鳴器、各種傳感（gǎn）器、接插件（jiàn）、電機、天線（xiàn）等等。

1、機械衝擊：確定光電子器件是否能適用於在（zài）需經受中等（děng）嚴酷程序衝擊的電子（zǐ）設備中，衝（chōng）擊可能是裝卸、運（yùn）輸或（huò）現場使用過程中突然受力或劇烈振動所產生的。

2、變頻（pín）振動測試：確定在規範頻率範圍內振動（dòng）對光電子器各部件的影響。

3、熱衝擊測試：確定（dìng）光電（diàn）子器（qì）件在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產（chǎn）生的作（zuò）用。

4、插拔耐（nài）久性測試：確定光電子器件光纖連接器的插入和（hé）拔出，光功率、損耗和反射等參數是否滿足重複性要求。

5、存儲試驗：確定（dìng）光電子器件能否經受高溫和低溫下運輸和（hé）儲存。

6、溫度循環測試：確定光電子器件承（chéng）受極高溫和極低溫的（de）能力，以及（jí）極高溫和極低溫度交替變化對光電子器（qì）件的影（yǐng）響。

7、恒定濕熱：確定密（mì）封和非密封光電子器件能否同時承受規（guī）定的溫（wēn）度和濕度。

8、高溫壽命測（cè）試：確定光電子器件高（gāo）溫加速老化（huà）失效機理和工作壽命。

加速老化試（shì）驗：在光電子器件上（shàng）施加高溫、高濕和一定的驅動電流進行的加速老化，依據試驗的（de）結果來判（pàn）定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，並可對光電子器件工作（zuò）條件進行調整和對可（kě）靠性（xìng）進（jìn）行計算。

1、高溫（wēn）加速老化：加速老化過程中最基本環境應力（lì）式高溫。在（zài）實驗過程中（zhōng），應定斯監測選（xuǎn）定（dìng）的參數，直到退化超過壽命終止（zhǐ）為止（zhǐ）。

2、恒溫試驗測試：恒溫試驗與（yǔ）高溫運行試驗類似，應規定恒溫試驗樣品數量（liàng）和允許失效數。

3、變溫試驗：變化濕度的高溫加速老化試（shì）驗（yàn）是（shì）定期按順序逐步升高溫度

加（jiā）速老化試驗：在光電子器件上施加高溫、高濕和一定（dìng）的驅動（dòng）電流進行的加速老化，依據試（shì）驗的結果來判定光電子器件具備功能和喪失（shī）功能，以及接收和拒收，並可對光電子器件工作條件進行（háng）調整和對可靠性進行計（jì）算。

1、高溫加速老化：加速老化過程中最基本環境應力式高溫。在實驗過程中，應定斯監（jiān）測選定的參數，直（zhí）到（dào）退化超過壽（shòu）命終止為止。

2、恒溫試驗測試：恒溫試驗與高溫運行試驗類似，應規定恒溫試（shì）驗樣品數（shù）量和允許失效數。

3、變溫試驗：變（biàn）化濕度的高溫加速老化試驗是定期按順（shùn）序逐步升高溫（wēn）度（dù）

一（yī）、 設（shè）備（bèi）用途:

    微電腦插拔力（lì）試驗機（jī）適用於各類連接器（件）、插頭插座等產品作插入、拔出之疲勞壽命測試；

電動插拔力試驗機采用台灣（wān）AC調速電機為動力源，質量可靠，耐久使用；配以專（zhuān）用對心夾持夾具對連接件（器）作插拔測試，由於采用導程銅套降低了（le）機械摩（mó）擦及噪聲；

電動插拔力試驗機可選配微型印表機（jī）打印插入力與拔出力，且打印間隔可以設定，自動計算最大力、最（zuì）小力、平（píng）均力。

二、設備（bèi）參數: