電子（zǐ）元器件是元件和器件（jiàn）的總稱。常用電子元器件：電（diàn）阻、電容、二極管、三極管、變壓器、繼電器、壓敏、液晶、連接器、可控（kòng）矽、輕觸開（kāi）關、蜂鳴器、各種（zhǒng）傳感器、接插件、電機、天線等等。

1、機械衝擊：確定光電子器件是否能適用於在需經受中等嚴酷程序衝擊的電子設備中，衝擊可能是裝卸、運輸或（huò）現場（chǎng）使用過程中突然受力或劇烈振動所產生（shēng）的。

2、變頻振動測試：確定在規範頻率（lǜ）範圍內振動對光電子器各部件的影響。

3、熱衝擊測試：確定光電（diàn）子器件在遭受到溫度（dù）劇變時的（de）抵抗能力（lì）和產生的作用。

4、插拔（bá）耐久性（xìng）測試（shì）：確定光電子器件光纖連接器的插（chā）入和拔出，光功率（lǜ）、損耗和反射等參數是否滿足重複性（xìng）要求。

5、存（cún）儲試驗：確定光電子器件能否經受（shòu）高溫和低溫下運（yùn）輸和儲存。

6、溫度循環測（cè）試：確定光電子器件承受極高（gāo）溫和極低溫的能（néng）力，以及極高溫（wēn）和極低溫度交替變化對光電（diàn）子器件（jiàn）的影響。

7、恒定濕熱：確定密封和非密封光電子器件（jiàn）能否同（tóng）時承受規定的溫度和濕度。

8、高溫壽（shòu）命測試：確定光電子器（qì）件高溫（wēn）加速老化失效機理和工作壽命。

加速老化試驗（yàn）：在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅動電流進行的加速老化，依據試驗的結果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收（shōu），並可對光電子器件工作條件進行調整和對可靠性進行計算。

1、高溫（wēn）加速老化：加速老（lǎo）化過程中最基本環境應力式高溫。在實驗過程中，應定斯監測選定的參數，直到退化超過（guò）壽命終止為止。

2、恒溫試驗測試：恒溫試驗（yàn）與高溫運行試驗類似，應規定恒（héng）溫試驗樣品數量和允許失效數。

3、變溫試驗：變（biàn）化濕度的高（gāo）溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度

加速老化試驗：在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅動（dòng）電流進行的加（jiā）速老化（huà），依據試驗的結果來判定光電子器件具備功（gōng）能（néng）和喪失功能，以及接收和拒收，並可對光電（diàn）子器（qì）件工作條（tiáo）件進行調整（zhěng）和對可靠性進（jìn）行計算。

1、高溫加速老化：加速老化過程中最基本環（huán）境應力式高溫。在實驗過（guò）程中（zhōng），應（yīng）定斯監測選定的（de）參數，直到退化超過壽命終止為止。

2、恒溫試（shì）驗測試：恒溫試驗與高溫運行試驗類（lèi）似，應規定恒溫試驗樣品數量和允許失效數。

3、變溫試（shì）驗：變化濕度的高溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高（gāo）溫（wēn）度

一、 設備用途（tú）:

    微電腦插拔力試驗機適用（yòng）於各類連接器（件）、插頭（tóu）插座等產品作插入（rù）、拔出之疲勞壽命測試；

電動插拔力試驗機采用台灣AC調速電機為動（dòng）力源，質量可靠，耐久（jiǔ）使用；配以（yǐ）專用對心夾（jiá）持夾（jiá）具對連接（jiē）件（器）作（zuò）插拔測試，由於采用導程銅套降低了機械摩擦及噪聲（shēng）；

電動插（chā）拔力試驗機可（kě）選配微型印表機打印插入力與拔出力，且打（dǎ）印間隔可以（yǐ）設定，自動計算最（zuì）大力、最小力、平均力。

二、設備參（cān）數（shù）: